Test Driven Development For Embedded C paperback english - 1-Jul-14

توافر: {{ product.quantity }} جرد

SKU: {{ product.sku }}

{{ product.price_format }} {{ product.origin_price_format }}

{{ variable.name }}

{{ value.name }}
كمية
استفسار فوري

المواصفات

الناشر Shroff Publishers & Distributors Pvt Ltd
اللغة الإنجليزية
رقم الكتاب المعياري الدولي 13 9789351107965
تاريخ النشر 1-Jul-14
رقم الكتاب المعياري الدولي 10 9351107965

على أساس 0 تعليقات

0.0

بشكل عام

إضافة مراجعة